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集成电路的电磁兼容测试

hth华体会 军事 2021年07月13日
本文摘要:如今集成电路的电磁兼容性越来越受到重视。电子设备和系统制造商希望改善产品以满足电磁兼容性规范,减少电磁上升,加强抗干扰能力。 过去集成电路制造商只关注成本、应用领域和使用性能,很少考虑电磁兼容性问题。即使单片集成电路通常产生小的电磁辐射,它也经常成为电子系统电磁辐射的来源。 大量数字信号瞬间同时转换,不会产生很多高频分量。

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如今集成电路的电磁兼容性越来越受到重视。电子设备和系统制造商希望改善产品以满足电磁兼容性规范,减少电磁上升,加强抗干扰能力。

过去集成电路制造商只关注成本、应用领域和使用性能,很少考虑电磁兼容性问题。即使单片集成电路通常产生小的电磁辐射,它也经常成为电子系统电磁辐射的来源。

大量数字信号瞬间同时转换,不会产生很多高频分量。特别是近几年来,集成电路的频率低,构建了更多的晶体管,集成电路的功率电压越来越低,加工芯片的特征尺寸越来越大,需要更多的功能,甚至原有的系统也需要构建在单个芯片上,这样的发展使得芯片级别的电磁兼容性最引人注目。现在集成电路制造商也应该考虑其产品的电磁兼容性问题。

集成电路电磁兼容性的标准化是集成电路电磁兼容性比较新的领域,因此电子设备和子系统已经有更详细的电磁兼容性标准,但集成电路的测试标准比较慢。国际电力委员会第47A技术分委会(IECSC47A)已从1990年开始致力于集成电路电磁兼容性标准的研究。另外,北美汽车工程协会开始开发自己的集成电路电磁兼容性测试标准SAEJ1752,主要是发射测试的一部分。

1997年,IECSC47A第九个工作组WG9正式成立,专门负责集成电路电磁兼容性测试方法的管理,参考各国的建议。到目前为止,已陆续发行了150kHz-1GHz的集成电路电磁发射测试标准IEC61967和集成电路电磁抗扰标准IEC62132。另外,WG9在脉冲耐受方面也在开发相应的标准IEC62215。

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目前,IEC61967标准被用作150kHz至1GHz频率的集成电路电磁发射测试,第1部分:标准化条件和定义(Saej 1752.1);)的六个部分也包括在内。第二部分:电磁辐射发射测量方法TEM消失法(SAEJ 1752.3);见)第三部分:电磁辐射发射测量方法表面扫描法(saej 1752.2);参考)第四部分:传导发射测量方法1/150必需耦合方法;第五部分:传导发射测量方法法拉第笼方法Workbenchfaradaycage(WFC);第六部分:传导发射测量方法磁场分析仪方法。

用作150kHz至1GHz频率集成电路电磁耐受测试的IEC62132标准由以下五个部分组成:第一部分:标准化条件和定义第二部分:电磁辐射抗扰度测定方法TEM室法;第三部分:传导耐受测定方法大量电流通过法(BCI);第四部分:传导耐受测定方法必需射频功率通过法(DPI);第五部分:传导耐受测定方法法拉第笼(WFC)。IEC62215标准用作集成电路脉冲耐受测试,还包括以下三个部分,但尚未月刊:第一部分:标准化条件及定义第二部分:传导耐受测定方法实时脉冲通过法;第三部分:传导耐受测定方法参考随机脉冲通过法(IEC61000-4-2和IEC61000-4-4)。

下面主要介绍IEC61967和IEC62132的测试方法。


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